求助广大虫友们， 表征半导体的载流子寿命、迁移率等的常用方法有哪些？ 谢谢！ 返回小木虫查看更多
霍尔测量能探测载流子寿命？
MOS结构的CV法可以测试
霍尔
飞行时间法测迁移率，利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性，广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架、共价有机框架、钙钛矿材料等。 （ FlyTOF）
返回小木虫查看更多
京公网安备 11010802022153号
老师的联系方式是？我们需要测试一下~
，
霍尔测量能探测载流子寿命？
MOS结构的CV法可以测试
霍尔
飞行时间法测迁移率，利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性，广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架、共价有机框架、钙钛矿材料等。
（ FlyTOF）