xrd数据在低角度阶段,背景不平,是什么原因
换了一台测试测试设备,粉末XRD数据在低角度阶段,背景不平(有明显的下降趋势,正常是近似水平的),是什么原因?有改进的数据采集方法吗?求拍砖讨论。样品是结晶性很好的颗粒,无非晶。
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换了一台测试测试设备,粉末XRD数据在低角度阶段,背景不平(有明显的下降趋势,正常是近似水平的),是什么原因?有改进的数据采集方法吗?求拍砖讨论。样品是结晶性很好的颗粒,无非晶。
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拉个基线就好了
可以试试从3或者5度开始扫,小角度容易散射
小角使用闪烁探测器比较好
低角度入射,有一部分光直射到检测器,所以检测器检测的光子数会高
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正常,不必计较